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超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000II
超高分辨場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000II

配備兼顧低能量分散,高亮度和探針電流穩(wěn)定的冷場發(fā)射電子槍·采用超高真空樣品室,減少樣品受到污染的影響·特別設計的強度框架和隔音罩,在多種安裝環(huán)境下都有很好的性能

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FlexSEM 1000 II掃描電子顯微鏡
FlexSEM 1000 II掃描電子顯微鏡

兼具臺式電鏡的簡單快捷,圖像分辨率高達4 nm。同時具有機型的品質(zhì)圖像性能和更加完善的自動化功能,可滿足更廣大用戶的需求。

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SU38000/SU39000掃描電子顯微鏡
SU38000/SU39000掃描電子顯微鏡

本產(chǎn)品沿用已經(jīng)過驗證的 GUI 界面,另外還搭載了廣受好評的 SEM MAP 功能。超大視野光學導航系統(tǒng)※為操作人員提供更加順暢的操作體驗

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SU3900SE高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡
SU3900SE高分辨熱場發(fā)射掃描電鏡

? 搭載新型熱場鏡筒,分辨率達到 0.9 nm@30 kV 和2.5 nm@1 kV ? 升級型號SE Plus 具有更強的低加速電壓性能  分辨率達到1.6 nm@1 kV(著陸電壓) ? 標配高靈敏度4+1分割半導體背散射電子探測器,支持低加速電壓觀察

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SU8700超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡
SU8700超高分辨肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡

隨著快速數(shù)據(jù)采集和數(shù)據(jù)處理技術的發(fā)展,電子顯微鏡進入了一個不僅重視數(shù)據(jù)質(zhì)量,而且重視其采集過程的時代。SU8700作為一款面向新時代的SEM,在日立電鏡貫有的高圖像質(zhì)量和高穩(wěn)定性的基礎上,增加了包括自動獲取數(shù)據(jù)等高通量的功能。

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XRF自動化成分檢測系統(tǒng)
XRF自動化成分檢測系統(tǒng)

XRF全檢系統(tǒng)可進行全自動在線分析,可對大批量生產(chǎn)、處理的產(chǎn)品實現(xiàn)100%的質(zhì)量控制。(XRF)分析是一種已經(jīng)過實地驗證的分析技術,通常用于對產(chǎn)品的合金的牌號和化學成份進行快速無損驗證。,可方便地整合到新建的或已有的由PLC(可編程邏輯控制器)控制的處理系統(tǒng)中。這款已經(jīng)得到CE認證的系統(tǒng)可在工業(yè)環(huán)境中連續(xù)7天24小時全天候使用:除了粉塵與濕氣以外,還可以經(jīng)受住極強的震動、電磁與聲學噪聲。

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